半自动硅片厚度TTV测试仪 

概述：[中介]特征 ■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量 ■测量范围：0～2mm ■分辨率：0.1μm ■微电脑控制、液晶显示 ■菜单式界面、PVC面板操作 ■接触式测量 ■测头自动升降 ■手动、自动双重测量模式

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特征


■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量


■测量范围：0～2mm


■分辨率：0.1μm


■微电脑控制、液晶显示


■菜单式界面、PVC面板操作


■接触式测量


■测头自动升降


■手动、自动双重测量模式


■数据实时显示、自动统计


■显示厚度、TTV、平均值和统计偏差


■电源：AC 220V 50Hz
[本信息来自于今日推荐网]
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