自动光谱椭偏仪
概述:[中介]光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱
 
光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计,高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数,光学带宽等。
光谱椭偏仪 - 产品特点
■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■ 更简便快捷的样品准直方法
■ 软件具备丰富的材料数据库
■ 允许用户自定义色散模型,更方便用户研究新材料的光学性质
■ 全波长多角度同时数据拟合,EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■ 光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
光谱椭偏仪 - 技术指标
■ 光源:氙灯
■ 光斑直径:1-3mm
■ 入射角范围:20°到90°,5°/步
■ 波长范围:350-850nm, 250-1100nm, 250-1700nm:0.002°~ 0.02°
■ 波长精度:1nm
■ 测量时间: < 8s (取决于测量模式和粗糙度)
■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸
■ 测量精度:0.02nm
■ 折射率:0.0002, 100nmSiO2 on Si 
■ 厚度测量范围:0.01nm ~ 50um
■ 消光比:10-6
光谱椭偏仪 - 可选配
■ CCD线阵列探测元件:200-850nm,350-1000nm
■ 样品显微镜
■ 高稳定性消色差补偿器
■ 透射测量架
■ XY移动样品台[本信息来自于今日推荐网]
光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计,高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数,光学带宽等。
光谱椭偏仪 - 产品特点
■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■ 更简便快捷的样品准直方法
■ 软件具备丰富的材料数据库
■ 允许用户自定义色散模型,更方便用户研究新材料的光学性质
■ 全波长多角度同时数据拟合,EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■ 光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
光谱椭偏仪 - 技术指标
■ 光源:氙灯
■ 光斑直径:1-3mm
■ 入射角范围:20°到90°,5°/步
■ 波长范围:350-850nm, 250-1100nm, 250-1700nm:0.002°~ 0.02°
■ 波长精度:1nm
■ 测量时间: < 8s (取决于测量模式和粗糙度)
■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸
■ 测量精度:0.02nm
■ 折射率:0.0002, 100nmSiO2 on Si 
■ 厚度测量范围:0.01nm ~ 50um
■ 消光比:10-6
光谱椭偏仪 - 可选配
■ CCD线阵列探测元件:200-850nm,350-1000nm
■ 样品显微镜
■ 高稳定性消色差补偿器
■ 透射测量架
■ XY移动样品台[本信息来自于今日推荐网]

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