美国ST5300HX替代品易恩半导体分立器件测试系统如何
概述:西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统,设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插
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美国ST5300HX替代品易恩半导体分立器件测试系统如何
EN-2005B功率器件综合测试系统
系统特征
测试范围广(19总大类,27分类)
升级扩展性强,通过选件可提升电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定300uS
被测器件引脚接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏
真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际偏差很大)
系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障
二极管极性自动判断功能,无需人工操作
主极电压: 10mV-2000V
主极电流: 100nA-50A
扩展电流: 100A、500A、1000A、1300A
电压分辨率: 1mV
电流分辨率: 1nA
测试精度: 0.2%+2LSB
测试速度: 0.5mS/参数
系统功耗: <150w
质 量: 35KG
尺 寸: 450x570x280mm
通信接口: RS232 USB
工作温度: 25-40°C
测试范围
|
测试范围 / 测试参数 |
||
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序号 |
测试器件 |
测试参数 |
|
01 |
二极管 DIODE |
IR;BVR ;VF |
|
02 |
晶体管 (NPN型/PNP型) |
ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO; BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF |
|
03 |
J型场效应管 J-FET |
IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON; IDSS;GFS;VGSOFF |
|
04 |
MOS场效应管 MOS-FET |
IDSS;IDSV;IGSSF; IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS; VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS |
|
05 |
双向可控硅 TRIAC |
VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH- |
|
06 |
可控硅 SCR |
IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM; IGT;VGT;IL;IH |
|
07 |
绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT |
ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON; VGEON;VF;GFS |
|
08 |
硅触发可控硅 STS |
IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ; VPK-;VGSW+;VGSW- |
|
09 |
达林顿阵列 DARLINTON |
ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO; BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ; VCESAT; VBESAT;VBEON |
|
10 |
光电耦合 OPTO-COUPLER |
ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO; CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode) |
|
11 |
RELAY |
RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME |
|
12 |
稳压、齐纳二极管 ZENER |
IR;BVZ;VF;ZZ |
|
13 |
三端稳压器 REGULATOR |
Vout;Iin; |
|
14 |
光电开关 OPTO-SWITCH |
ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF |
|
15 |
光电逻辑 OPTO-LOGIC |
IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF |
|
16 |
金属氧化物压变电阻 MOV |
ID+ ID-;VN+; VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ; |
|
17 |
固态过压保护器 SSOVP |
ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、 IH-;;IBO+ IBO-;VBO+ VBO-;VZ+ VZ- |
|
18 |
压变电阻 VARISTOR |
ID+; ID-;VC+ ;VC- |
|
19 |
双向触发二极管 DIAC |
VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
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