美国ST5300HX替代品易恩半导体分立器件测试系统如何 

概述:西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统,设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插
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美国ST5300HX替代品易恩半导体分立器件测试系统如何

EN-2005B功率器件综合测试系统

系统特征

测试范围广(19总大类,27分类)

升级扩展性强,通过选件可提升电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A

采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定300uS

被测器件引脚接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏

真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际偏差很大)

系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障

二极管极性自动判断功能,无需人工操作


主极电压:     10mV-2000V

主极电流:   100nA-50A

扩展电流:   100A、500A、1000A、1300A

电压分辨率:    1mV

电流分辨率:    1nA

测试精度:   0.2%+2LSB

测试速度:   0.5mS/参数

系统功耗:   <150w

质    量:   35KG

尺    寸:   450x570x280mm

通信接口:   RS232 USB

工作温度:   25-40°C

测试范围

 

测试范围 / 测试参数

 

序号

测试器件

测试参数

 

01

二极管

DIODE

IR;BVR ;VF

 

02

晶体管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF

 

03

J型场效应管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF

 

04

MOS场效应管 

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS

 

05

双向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-

 

06

可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH

 

07

绝缘栅双极大功率晶体管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS

 

08

硅触发可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

 VPK-;VGSW+;VGSW-

 

09

达林顿阵列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON

 

10

光电耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)

 

11

继电器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME

 

12

稳压、齐纳二极管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ

 

13

三端稳压器

REGULATOR

Vout;Iin;

 

14

光电开关

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF

 

15

光电逻辑

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF

 

16

金属氧化物压变电阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;

 

17

固态过压保护器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-

 

18

压变电阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-

 

19

双向触发二极管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

美国ST5300HX替代品易恩半导体分立器件测试系统如何
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