交流阻断 选购指南
科研院所专用高温阻断测试系统
系统概述: 交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定的时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。 一般情况下,此项试验是对器件在结温(Tjm ℃)和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获取相关试验数据。 该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、......
系统概述: 交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定的时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。 一般情况下,此项试验是对器件在结温(Tjm ℃)和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获取相关试验数据。 该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、......