传输接口 选购指南
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统
  PV-1000系列无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、(总厚度变化)TTV、翘曲及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数据传输接口及基于Windows的控制软件,用以进行在线及离线数据管理功能。 无接触硅片综合测试系统-产品特点 ■ 使用MTI Instruments独有的推/拉电容探针技术 ■ 每套系统提供最多三个测量通道 ■ 可进行最大、最小、平均厚度测量和TTV测量 ■ 可进行翘曲度测量(需要3探头) ■ 用......