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STIL光谱纳米位移传感器ENDO-ON-DUO 

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STIL光谱共焦位移传感器OP-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器END-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器OP-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器ENDO-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器CLIR-MGIR

STIL白光干涉测量传感器OPILB

STIL光谱共焦位移传感器是由法国STIL公司生产的，光谱共焦位移传感器是基于光谱共焦原理制成的一款高精度位移传感器，最小分辨率可达到2nm。采样率达100Hz-30KHz。常用于测透明物体的厚度，如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析、表面轮廓分析、划痕测量、孔内径测量应用非常广泛，且精度高，不受表面材料的影响。

STIL的光学传感器在三维非接触式测量中有着最前端的技术。我们的传感器基于穿新的光学原理，几乎能够测量任何类型的材料，具有特殊的精确度。STIL传感器可应用在几乎所有的工业领域。计量或研究实验室内，将它作为高精密仪器，或者用作生产线的质量控制工具。工业环境使用时，由于STIL的简单的接口，能够与测量和检测设备集成。

1.粗糙度测量：

STIL传感器可测量最小几个纳米的粗糙度。获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很多，而且不会对表面造成划痕的风险。