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STIL厚度测量传感器CLIR-MGIR 

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STIL光谱共焦位移传感器OP-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器END-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器OP-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器ENDO-ON-DUO

STIL光谱共焦位移传感器CLIR-MGIR

STIL白光干涉测量传感器OPILB

STIL光谱共焦位移传感器是由法国STIL公司生产的，光谱共焦位移传感器是基于光谱共焦原理制成的一款高精度位移传感器，最小分辨率可达到2nm。采样率达100Hz-30KHz。常用于测透明物体的厚度，如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析、表面轮廓分析、划痕测量、孔内径测量应用非常广泛，且精度高，不受表面材料的影响。

STIL的光学传感器在三维非接触式测量中有着最前端的技术。我们的传感器基于穿新的光学原理，几乎能够测量任何类型的材料，具有特殊的精确度。STIL传感器可应用在几乎所有的工业领域。计量或研究实验室内，将它作为高精密仪器，或者用作生产线的质量控制工具。工业环境使用时，由于STIL的简单的接口，能够与测量和检测设备集成。

1.粗糙度测量：

STIL传感器可测量最小几个纳米的粗糙度。获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很多，而且不会对表面造成划痕的风险。

2.轮廓&微观形貌：

STIL的3D扫描的接口，能够满足所有复杂对象的2D和3D测量。精度可达亚微米级。

3.厚度测量：

非常先进的光谱共焦成像原理，通过使用一个单一的传感器就能测量透明材料的厚度，而且具有极高的精度。可以从样品的一面直接测量。

4.水平面控制：

由于其非接触技术，我们的传感器可以检测和测量液体的水平面。

5.振动：

由于非常高的测量频率和纳米分辨率，我么的传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计避免了在测试时的干扰，并能测量和分析难以访问的区域。

6.生产线检测：

STIL SA的光学传感器能够用应用于生产线系统控制，是由于其非常高的测量速率和先进的接口与制造能力。