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三菱化学Loresta-GX高精度四探针仪MCP-T700 

Loresta - GX MCP - T 700低电阻率电阻率计

三菱化学Loresta-GX高精度四探针仪MCP-T700

MITSUBISHI MCP-370四点探针

金属薄膜，导电涂料，导电塑料等的表面和体积电阻率测量可以通过4探针法制备。只需将4探针探针压在样品上即可轻松测量，标准规格和选项。

MCP - T 700低电阻率电阻率计

Loresta AX MCP-T370简易低电阻率计

RORESTA-AX MCP-T370简易型低电阻率计

4探针法介绍机。便利型是过程管理的理想选择。

MCP - T370简化低电阻率计

UX MCP - HT 800高电阻率电阻率计

UX MCP - HT 800高电阻率电阻率计

通过恒压施加·双环法，可以测量纸和塑料薄膜等表面和抗静电材料的电压电阻率。

MCP - HT 800高电阻率电阻率计

电阻率自动测量系统大型测绘系统MCP-S620型·MCP-S521型

自动电阻率测量系统大型测绘系统MCP-S620·MCP-S521

MCP-T370　簡易型低抵抗率計

简易型低电阻率表（测量范围10 - 2至106Ω）

它是一种方便的电阻率计。 可以在线进行简单检查。

特点

通过专用的四探针探针，可以一次性高精度地测量各种材料的电阻率。

只需按下开始按钮，即可找到稳定值并自动加载[自动保持]功能以确认测量值。

采用镍氢电池可以驱动电池，更换电池组变得容易。

添加了探测检查模式。 使用探头检查器（另售），您可以轻松检查Loresta AX主机和探头的精度。

测量数据可以输出到USB存储器。

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标准规格

测量方法4端子4探针法

恒流应用方法

测量范围10-2至106Ω

标准设备在线4探针探针（ASP）AC适配器

可选探头

输入应用类型

ESP非均匀样品MCP-TP 08 P.

PSP小样品，用于薄膜的MCP-TP 06 P.

QP2 MCP-TPQP 2用于微量样品

MCP-TFP用于TFP硅晶圆或玻璃基板上的薄膜

MCP-HT800　高抵抗　抵抗率計

使用

Hiresta-UX是一种测量电阻率的测量仪器，它是材料的评估标准之一。

通过测量各种高电阻材料的表面电阻率和体积电阻率，它可用于生产技术，质量控制，研究和开发。

抗静电材料可以轻松准确地测量和开发生产线的质量控制，或最先进材料的表面电阻率和体积电阻率。

该仪器是符合JIS K6911的测量方法，可以通过各种探针测量各种材料，如塑料，薄膜，涂料。

为了稳定地测量具有106Ω或更高电阻的材料，双环测量是最好的。

我们的探头采用双环电极。

主要测量对象

防静电材料，建筑材料，地板材料，各类纸张，包装材料，油漆，纤维，混凝土，陶瓷，树脂，薄膜等。

特点

必要时，高精度地测量高电阻区域的表面电阻率和体积电阻率

与Hiresta UP（104至1013）相比，测量范围从103扩大到1014Ω

施加电压范围为1至1000 V，29种方式。 此外，通过施加电压的自动扫描功能，

电阻值的电压特性测量是可能的。

开关盒的内置功能（测量体积电阻率所需的可选项）。

通过简单地连接寄存器表，就可以测量音量响应速率。

可以使用用于Hiresta UP的常规探针

2000测量结果可以输出到USB存储器

标准规格

测量方法恒压应用/漏电流测量方法

数据显示640×480点7.5英寸全彩TFT液晶触摸屏

可以分别设置转换器上限值和下限值

探头专用MCP探头URS，UR，UR-SS，UR-100，UA，J Box X型

数据输出USB存储器

电源AC 85 - 264 V 47 - 63 Hz

尺寸·重量W330×D270×H 113 mm