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MITSUBISHI探针检查器 MCP-TRF 1 RMH304 

MCP-T700　低抵抗 抵抗率計

使用

Loresta - GX是一种测量电阻率的测量仪器，它是材料的评估标准之一。

随着科学技术的研究和开发，当然，生产技术的发展，在质量管理领域的材料越来越严格的精度高，在很短的时间周期的管理，它可以很容易，现在是必要的。其中，存在电阻率（表面，体积，电导率）作为表示材料的状态和性质的指标。 Loresta-GX是一种可以通过校正因子轻松准确地测量电阻率的设备。

该装置已成为符合JIS K 7194，导电塑料通过各种探针，ITO膜的测量方法，可以在宽范围的材料如硅晶片进行测量。

不同于传统的4端子法，而不需要电极制造要被测量，采用多种4点探针与我们的和是可能电阻率测量与单个触摸。

主要测量对象

（1）导电塑料，电磁波屏蔽材料，硅片，导电橡胶，

导电漆，浆料，油墨，金属薄膜，ITO玻璃，薄膜等

特点

必要时，可以在必要时以高精度测量低电阻区域的表面电阻率，体积电阻率（电阻率）和电导率。

与Loresta GP（10 - 3到107）相比，测量范围从10 -4扩大到107Ω

可以通过改变电流方向来测量硅晶片

恒流可变功能（可以使用微电流进行样品测量）

可以使用常规的Loresta GP探针

2000测量结果可以输出到USB存储器

触摸面板的可用性提高了可操作性

选项

探测器

名称/型号/产品缩写概要图规格应用

ASP探测器

MCP - TP 03 P.

RMH 110 JIS K 7194兼容

针脚之间：5毫米

针尖：0.37 R×4件

弹簧压力：210 g /标准探头，适用范围广

ESP探测器

MCP-TP 08 P.

在RMH 114针之间：5毫米

针尖：φ2mm×4

弹簧压力：240克/不均匀样品

LSP探测器

MCP-TPLSP

在RMH 116引脚之间：5 mm

针尖：球D 2 mm×4

弹簧压力：130克/软样品

PSP探针

MCP-TP 06 P.

RMH 112引脚之间：1.5 mm

针尖：0.26 R×4件

弹簧压力：70克/本适用于样品或薄膜

QP2探针

MCP-TPQP 2

在RMH 119引脚之间：1.5 mm

针尖：0.26 R×4件

弹簧压力：70克/细样，方型

BSP探针

MCP-TP 05 P.

RMH 111引脚至引脚：2.5 mm

针尖：0.37 R×4件

弹簧压力：210克/本

大样本

注）无法测量电阻率

NSCP探测器

MCP-NSCP

RMJ在202针之间：1.0毫米

针尖：0.04 R×4件

弹簧压力：250克/硅片

TFP探针

MCP-TFP

RMJ 217针脚之间：1.0 mm

针尖：0.15 R×4件

弹簧压力：50 g /用于硅片或玻璃基板上的薄膜

AP2探测器

MCP - TPAP 2引脚之间：10 mm

针尖φ2×2

弹簧压力：240 g /标准2探针探针

注）无法测量电阻率