MITSUBISHI探针检查器 MCP-TRF 1 RMH304
概述:日本强力磁性型块高斯计TM-701总代理
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MCP-T700 低抵抗 抵抗率計
使用
Loresta - GX是一种测量电阻率的测量仪器,它是材料的评估标准之一。
随着科学技术的研究和开发,当然,生产技术的发展,在质量管理领域的材料越来越严格的精度高,在很短的时间周期的管理,它可以很容易,现在是必要的。其中,存在电阻率(表面,体积,电导率)作为表示材料的状态和性质的指标。 Loresta-GX是一种可以通过校正因子轻松准确地测量电阻率的设备。
该装置已成为符合JIS K 7194,导电塑料通过各种探针,ITO膜的测量方法,可以在宽范围的材料如硅晶片进行测量。
不同于传统的4端子法,而不需要电极制造要被测量,采用多种4点探针与我们的和是可能电阻率测量与单个触摸。
主要测量对象
(1)导电塑料,电磁波屏蔽材料,硅片,导电橡胶,
导电漆,浆料,油墨,金属薄膜,ITO玻璃,薄膜等
特点
必要时,可以在必要时以高精度测量低电阻区域的表面电阻率,体积电阻率(电阻率)和电导率。
与Loresta GP(10 - 3到107)相比,测量范围从10 -4扩大到107Ω
可以通过改变电流方向来测量硅晶片
恒流可变功能(可以使用微电流进行样品测量)
可以使用常规的Loresta GP探针
2000测量结果可以输出到USB存储器
触摸面板的可用性提高了可操作性
选项
探测器
名称/型号/产品缩写概要图规格应用
ASP探测器
MCP - TP 03 P.
RMH 110 JIS K 7194兼容
针脚之间:5毫米
针尖:0.37 R×4件
弹簧压力:210 g /标准探头,适用范围广
ESP探测器
MCP-TP 08 P.
在RMH 114针之间:5毫米
针尖:φ2mm×4
弹簧压力:240克/不均匀样品
LSP探测器
MCP-TPLSP
在RMH 116引脚之间:5 mm
针尖:球D 2 mm×4
弹簧压力:130克/软样品
PSP探针
MCP-TP 06 P.
RMH 112引脚之间:1.5 mm
针尖:0.26 R×4件
弹簧压力:70克/本适用于样品或薄膜
QP2探针
MCP-TPQP 2
在RMH 119引脚之间:1.5 mm
针尖:0.26 R×4件
弹簧压力:70克/细样,方型
BSP探针
MCP-TP 05 P.
RMH 111引脚至引脚:2.5 mm
针尖:0.37 R×4件
弹簧压力:210克/本
大样本
注)无法测量电阻率
NSCP探测器
MCP-NSCP
RMJ在202针之间:1.0毫米
针尖:0.04 R×4件
弹簧压力:250克/硅片
TFP探针
MCP-TFP
RMJ 217针脚之间:1.0 mm
针尖:0.15 R×4件
弹簧压力:50 g /用于硅片或玻璃基板上的薄膜
AP2探测器
MCP - TPAP 2引脚之间:10 mm
针尖φ2×2
弹簧压力:240 g /标准2探针探针
注)无法测量电阻率
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