测量
所有分类下结果单点少子寿命测试仪
[中介]HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到2000
激光椭偏仪针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量
[中介]多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数，使用632.8nm波长氦氖激光器，具有极高的精确度和准确度。
硅材料综合测试仪
[中介]硅料综合测试仪HS-PSRT
本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。
硅料综合测试仪 - 产品特点
■ 同时检
无接触少子寿命扫描仪
[中介]HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平
光谱椭偏仪全自动
[中介]全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来，样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和精确性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误；能够工作于
自动光谱椭偏仪
[中介]光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱
原生多晶及硅芯型号测试仪
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型号测试仪是一款高端半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅料型号测量，型
半自动硅片厚度TTV测试仪
[中介]特征
■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量
■测量范围：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微电脑控制、液晶显示
■菜单式界面、PVC面板操作
■接触式测量
■测头自动升降
■手动、自动双重测量模式
四探针电阻率方阻测试仪
[中介]本仪器用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及
