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半导体HAST高压加速老化试验箱工厂
半导体HAST高压加速老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 临界点LIMIT方式自动An全保护,异常原因与故障指示灯显示。利型packing,箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。 半导体HAST高压加速老化试验箱技术参数: 型号 :HAST-35 HAST-45 HAST-55 HAST-65 内箱尺寸(㎝):Φ35×45 Φ45×55 Φ55×65 Φ65×75 温度範围......