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抗干扰介质损耗测试仪 中文菜单 数据打印 

一、仪器概况
      KEJSY-A型抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于超频、变频、工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。
      本测试仪淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，采用变频技术，故抗干扰能力强，测试时间短等优点。另外，本介质损耗测试仪针对电容式电压互感器（CVT）试验困难的特点，增设了外接法测试，外接标准电容器、调压器，使得测试非常简单可靠，是我公司第四代智能化抗干扰介质损耗测试仪。
二、技术指标
      1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）
      2、相对湿度：30％～70％ 
      3、供电电源：电压：220V±10％，频率50±Hz 
      4、外形尺寸：长×宽×高=435mm×300mm×300mm
      5、重量：20kg
      6、输出功率：1KVA
      7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位） 
      8、测试方法：正接法、反接法、外接法 
      9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF     
                           外接试验电压：≤10μF
     10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1.5％±0.09％ 
                                  电容容量（Cx）：1.0％±2PF
三、仪器结构
      KEJSY-A型抗干扰介质损耗测试仪为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。
      图（一）是仪器面板结构图，各功能键有关使用方法，将在使用方法中具体介绍。
       
                                      图（一）  介损面板图
       图（二）在仪器侧部，按一下仓门（PUSH）,将自动打开，为仪器测试接线插孔示意图，该部位，在仪器工作时将产生高电压，使用时须小心谨慎。
      
             图（二）仪器测试接线插孔示意图
    HV-仪器高压输出孔
    CX-测试电流输入孔
    CN-外接标准电容孔