蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB Crossbeam 

概述：蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上
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2022-12-05 16:24:41 点击9139次
分类：
仪器仪表 > 光学仪器 > 显微镜
服务区域：
全国
价格：
  • 4000000 元
联系电话：
15850350764
信用：4.0  隐性收费：4.0
描述：4.0  产品质量：4.0
物流：4.0  服务态度：4.0
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蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。在加工、成像或是实现三维重构分析时，Crosssbeam系列都将大大提升您的应用体验。

　　使用Gemini电子光学系统，您可以从高分辨率SEM图像中提取真实样本信息

　　使用新的Ion-sculptor FIB镜筒以及全新的样品处理方式，您可以大限度地提高样品质量、降低样品损伤，同时大大加快实验操作过程

　　使用Ion-sculptor FIB的低电压功能，您可以制备超薄的TEM样品，同时将非晶化损伤降到非常低

　　使用Crossbeam 340的可变气压功能

　　或使用Crossbeam 550实现更苛刻的表征，大仓室甚至为您提供更多选择

　　EM样品制备流程

　　按照以下步骤，高效率、高质量地完成制样

　　Crossbeam 为制备超薄、高质量的TEM样品提供了一整套解决方案，您可以高效地准备样品，并在TEM或STEM上实现透射成像模式的分析。

蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB Crossbeam
[本信息来自于今日推荐网]
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