材料测试及分析,标准解读,方法研发 

概述:材料测试及分析 标准解读 方法研发

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2024-03-01 15:29:17 点击84384次
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第1章 x射线的性质

1.1 x射线的本质

1.2 x射线的产生及x射线谱

1.2.1 x射线的产生

1.2.2 x射线谱

1.3 x射线与物质的相互作用

1.3.1 x射线的吸收

1.3.2 x射线的散射

1.4 x射线源及试验方法

1.4.1 x射线源

1.4.2 x射线衍射的试验方法

1.5 x射线的安全防护

金属材料

产品范围:普通及特种金属零部件, 金属模具,表面电镀金属制品,焊接类金属制品

检测项目:尺寸,公差,角度,锥度,圆度,平面度,粗糙度,硬度,化学成分,力学性能,金相分析,金属冲击,失效分析,

汽车内饰件,外饰件,其他汽车零部件,带表面涂层的各类产品,密封胶,密封圈,普通及特种橡胶,塑料制品,胶粘剂,胶带

检测项目:环境耐候性,光老化,紫外老化,臭氧老化,盐雾,温湿度循环,温湿度冲击,

物理机械性能:拉伸,压缩,弯曲,剪切,撕裂,吸水,膨胀,硬度,密度,灰分,燃烧性能,

普通及特种表面涂层性能

膜厚,耐刮擦,耐磨,硬度,色牢度,色差,碎石冲击,弯曲强度,附着力,柔韧性,粗糙度

普通及特种橡胶,塑料制品性能

回弹力,硫化特性,流变,粘合强度,门尼系数,摩擦系数,压缩应力松弛,磨损体积,蠕变,疲劳寿命,

密封胶圈制品性能

尺寸,外观质量,低温脆性,硬度变化,体积变化,接触污染,耐油性,碳含量,

胶粘剂,胶带性能

表干时间,剥落强度,固化速度,挤出性,适用期,下垂度,流动性,低温柔性,润滑性,密封性,弹性恢复率,初粘性,持粘性,污染性,不挥发物含量,体积电阻率,密封压力。

半导体材料常规PL荧光测量服务机构
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