德国菲希尔测厚仪X荧光镀层 

概述:德国FISCHER X荧光镀层测厚仪说明: 德国FISCHER X荧光镀层测厚仪遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,
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德国FISCHER X荧光镀层测厚仪说明:

德国FISCHER X荧光镀层测厚仪遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。X荧光镀层测量仪面对复杂的电镀层,如单一镀层,二元合金镀层,三元合金镀层,双镀层,双镀层其中一层为合金镀层这些复杂的电镀层厚度检测,菲希尔测厚仪能够准确快速的检测分析出结果,多项专利技术,在线路板镀金、五金镀镍镀铬镀锌镀银等领域中,占有80%的市场份额。有需要请联系:锦霖公司   

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