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低温储存试验 低温存储寿命试验 深圳STT 

低温储存试验

低温储存试验原理：低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等，从而确定电子元器件的抗低温能力。

低温储存试验目的：为了考核低温对试样的影响，确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

低温储存试验标准：JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

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