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厂家供应电脑型明暗场微分干涉DIC 导电粒子KCF检测金相显微镜 

MWS-JXP8002型号DIC金相显微镜，FPD检查显微镜，应用与LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查。 

两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致，使操作更加得心应手。

三档式铰链三目观察筒，在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80%用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察 ，微分干涉物镜充低倍到高倍,都能得到清晰平坦的微分干涉显微图像。使用人员只需在正交偏光的基础上插入DIC棱镜即可进行明视场DIC微分干涉观察。使用DIC技术可以让物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果极大的提高图像的对比度。同时也可以在不用更换暗场物镜的情况下实现暗场观察操作既方便也节省另外购置暗场物镜的成本。 

 仪器特点

• MWS-JXP8002型号DIC微分干涉金相显微镜其微分干涉效果可与进口品牌相媲美 
• MWS-JXP8002型号DIC微分干涉金相显微镜机型采用长工作距物镜、半复消色差技术多层宽带镀膜技术采用长寿命LED光源
• 多种高度功能化的附件能满足各种检验需要可用于明场、简易偏光、微分干涉观察
• 曼威斯工程师研发的长工作距离金相物镜高倍物镜采用半复消技术。
• 各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像。
• MWS-JXP8002型号DIC微分干涉金相显微镜采用左右低手位粗微同轴调焦机构，带松紧调节装置。粗调行程25mm，微调精度1um，可用于测量Z轴方向极细微物体的高度，如锡球。右手位平台，带锁紧装置大行程机械平台，适用范围广。带Y轴移动锁定功能，完全锁紧后限制Y轴的移动，可用于横向检测，防止阵列器件检测时出现漏检现象。玻璃载物台板可用于透射光观察。

 配置U-DICR微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。