TSS-5X-3红外线发射率测试仪
概述:北京华瑞森科技GR200热释光探测器(热释光剂量片)
GR200热释光探测器(热释光剂量片):探测对象:X、γ射线
◆ 成分:LiF(Mg,Cu,P)
◆ 形状:圆片(另有方片、粉末可选)
◆
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日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪,TSS-5X远红外线放射率测试器
北京华瑞森科技发展有限公司中国区域总代理:日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪也称为TSS-5X红外线放射率测试器,远红外测试仪,本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。
TSS-5X-3远红外线发射率测试仪,TSS-5X-3远红外线放射率测试器,远红外测试仪早已经由材料科研单位、半导体产业等的单位采用。 广泛用于红外材料测量。
日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪应用:
1、在机器的热设计中必须使用的零件的发射率测量;
2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率;
3、各种零件的加工/处理前后的发射率比较;
4、其他、从零件的放射率求取物体本身的发射率等;
5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。
日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成:
1.红外线照射源
藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉,在材料中集中照射。
2.红外线检验素子
从材料反射出的能量的一部分,射进半球面黒体炉的顶点的小孔,用一定比率做检验。
注:比率是依据光学系的构造来决定。
3.发射率演算回路
从反射能量检验器的输出,演算试料的发射率。
注:材料的反射率和发射率的关系式如下:r εε=1-r
4.放射率表示値的校正
用发射率标准片(ε=0.06与0.94)做校准.
测量原理:利用恒温放射的远红外线发射源,将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长:2-22μm
测量范围:0.00-1.00
额定精度:±0.01
测量面积:Φ15mm
测量距离:12mm(固定探头的脚柱部)
被测物温:10-40℃(室温)
输 出:0-0.1V,0-1V(满载)
使用温度:10-45℃
使用湿度:35-85%RH(未结露、霜之状态)
使用电源:AC100V ±10%,50/60Hz
外型尺寸:探头Φ51X137mm(0.5Kg)
主机:H170X W306xD230mm(5Kg)
配件:发射率标准片0.94、0.06各一片。
代理商:
北京华瑞森科技发展有限公司
Beijing Huaruison Technology Development Co.Ltd.,
北京华睿志达科技发展有限公司
Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,
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