大规模集成芯片车规AEC-Q104认证，车规认证测试机构 

概述：AEC-Q104对大规模集成电路芯片IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级
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2021-04-26 10:00:44 点击38882次
分类：
认证/检测/评估 > 检测
标签：
广电计量 认证试验
服务区域：
广东/广州
联系电话：
13808840060 李经理
QQ：
973853687
信用：4.0  隐性收费：4.0
描述：4.0  产品质量：4.0
物流：4.0  服务态度：4.0
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大规模集成芯片车规AEC-Q104认证

 

       广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

      

      广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息产业部电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。广电计量的资质能力处于行业领先水平，其中CNAS认可3408项，CMA认可1990项，CATL认可覆盖55个类别；在支撑各区域产业高质量发展过程中，广电计量还获众多荣誉称号。

AEC-Q104

AEC-Q104对大规模集成电路芯片IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。


AECQ104认证测试周期：

3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

AECQ100认证测试地点：

广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

 

GRGT芯片测试能力：


芯片可靠性验证 ( RA)

芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ；

温度循环试验(TC), JESD22-A104 ；

温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速应力试验(HTST / HAST), JESD22-A110；

高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108；


芯片静电测试 ( ESD)：

人体放电模式测试(HBM), JS001 ；

元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ；

闩锁测试(LU), JESD78 ；


芯片IC失效分析 ( FA)： 

光学检查(VI/OM) ；扫描电镜检查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；OBIRCH ；

Micro-probe;聚焦离子束微观分析(FIB) ；

弹坑试验(cratering) ；芯片开封(decap) ；

芯片去层(delayer)；晶格缺陷试验(化学法)；

PN结染色 / 码染色试验；

推拉力测试(WBP/WBS)；

红墨水试验；PCBA切片分析(X-section)；



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