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STIL光谱共焦位移传感器 

常用于测透明物体的厚度，如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析、表面轮廓分析、划痕测量、孔内径测量应用非常广泛，且精度高，不受表面材料的影响。

粗糙度测量：STIL传感器可测量最小几个纳米的粗糙度。获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很多，而且不会对表面造成划痕的风险。
轮廓&微观形貌：STIL的3D扫描的接口，能够满足所有复杂对象的2D和3D测量。精度可达亚微米级。
厚度测量：非常先进的光谱共焦成像原理，通过使用一个单一的传感器就能测量透明材料的厚度，而且具有极高的精度。可以从样品的一面直接测量。
水平面控制：由于其非接触技术，我们的传感器可以检测和测量液体的水平面。
振动：由于非常高的测量频率和纳米分辨率，我么的传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计避免了在测试时的干扰，并能测量和分析难以访问的区域。
生产线检测：STIL SA的光学传感器能够用应用于生产线系统控制，是由于其非常高的测量速率和先进的接口与制造能力。