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STIL光谱共焦传感器CL-MG-ON-CCS

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-CCSSTIL传感器可测量最小几个纳米的粗糙度。获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很多，而且不会对表面造成划痕的风险。

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NS系列探针式薄膜厚度台阶仪采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。

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深圳市汇中测控设备有限公司简称“汇中仪器”。是集科研、制造、代理、销售咨询服务为一体的仪器服务公司，专业研制、销售符合IEC、EN、UL、VDE、GB、ISO、ASTM等标准的试验仪器。同时承接专业检测机构、生

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sepuke2024-12-02 13:04:51

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