功能异常
所有分类下结果单点少子寿命测试仪
[中介]HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到2000
无接触少子寿命扫描仪
[中介]HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平
单点少子寿命测试仪
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无接触少子寿命扫描仪
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