半导体测试仪 选购指南
电路板温度冲击温度骤变试验机构检测报告
电路板温度冲击温度骤变试验机构检测报告 北京仪综所环境实验室提供各类电工电子产品、电子元器件、电路板、半导体期间、各类传感器、大容量存储设备、电路板、整机设备的温度冲击试验服务、温度循环、温度变化、温度骤变试验第三方检测服务,实验室具备CNAS和CMA认可资格,可以出具国家承认的中文或英文检测报告。检测报告咨询 136 9109 3503 温度冲击试验是确定产品在温度急剧变化气候环境下储存、运输、使用的环境适应性能力,在高温与低温瞬间变化条件下,对产品的物理以及其他相关特性......
硅材料综合测试仪
  硅料综合测试仪HS-PSRT 本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。 硅料综合测试仪 - 产品特点 ■ 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。 ■ 仪器采用220V交流电源供电 ■ 拥有较高的电阻率测试分辨率,最小可到0.001 欧姆.厘米” ■ 能精确的分辨电阻率在0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号 ■ 独立的P/N 型重掺告警设置,便于工厂大规模快速选料 ■ 适中的......
DAGE4000推拉力和剪切强度测试仪
DAGE4000键合强度和剪切强度测试仪 Dage4000 Bond Tester Dage4000 焊接强度测试仪是一种多功能焊接强度测试仪,可执行推拉力和剪切力测试应用。DAGE 4000 焊接强度测试仪可配置为简单焊线拉力测试仪,也可升级进行锡球剪切力、晶粒剪切力、凸块拉力、矢量拉力或镊钳拉力测试。 Dage4000焊接强度测试仪(推拉力测试机)主要用于测试芯片金线/铜线的键合情况。 技术参数: 1.拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; 2.推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选......