镀层测厚仪、x荧光光谱测厚仪、标准片

概述：测厚仪可用于手表、精密仪表制造行业镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测其他样品镀层测试。
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2018-12-19 15:28:34 点击5351次

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全国

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18994336605

信用：4.0 隐性收费：4.0

描述：4.0 产品质量：4.0

物流：4.0 服务态度：4.0

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性能优势：

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨：快速精准定位样品。

EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。